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失效分析
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失效分析
- 通過失效分析設(shè)備，借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機理，確認(rèn)最終的失效原因，并提出改進(jìn)設(shè)計和制造工藝的建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)。
失效分析的意義：
1、失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。
2、失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。
3、失效分析為設(shè)計工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計，使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
4、失效分析可以評估不同測試向量的有效性，為生產(chǎn)測試提供必要的補充，為驗證測試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。
5、減少和預(yù)防同類機械零件的失效現(xiàn)象重復(fù)發(fā)生，保障產(chǎn)品質(zhì)量，提高產(chǎn)品競爭力。
6、為企業(yè)技術(shù)開發(fā)、技術(shù)改造提供信息，增加企業(yè)產(chǎn)品技術(shù)含量，從而獲得更大的經(jīng)濟效益。
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