蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司 
老化測(cè)試系統(tǒng)
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X射線系統(tǒng)
老化測(cè)試系統(tǒng)
- 老化測(cè)試是研究產(chǎn)品壽命特征的方法，這種方法可在實(shí)驗(yàn)室模擬各種使用條件來進(jìn)行。老化試驗(yàn)是可靠性試驗(yàn)中重要基本的項(xiàng)目之一，它是將產(chǎn)品放在特定的試驗(yàn)條件下考察其失效（損壞）隨時(shí)間變化規(guī)律。 通過老化（壽命）試驗(yàn)，可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。如結(jié)合失效分析，可進(jìn)一步弄清導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要失效機(jī)理，作為可靠性設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)測(cè)、改進(jìn)新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗(yàn)條件等的依據(jù)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1．將耗時(shí)的功能測(cè)試移到老化中可以節(jié)約昂貴的高速測(cè)試儀器的時(shí)間。如果老化后只進(jìn)行參數(shù)測(cè)試及很少的功能測(cè)試，那么用現(xiàn)有設(shè)備可測(cè)試更多器件，僅此一點(diǎn)即可抵消因采用老化測(cè)試方案而發(fā)生的費(fèi)用。?
2． 達(dá)到預(yù)期故障率的實(shí)際老化時(shí)間相對(duì)更短。過去器件進(jìn)行首批老化時(shí)都要先經(jīng)過168小時(shí)，這是人們期望發(fā)現(xiàn)所有早期故障的標(biāo)準(zhǔn)起始時(shí)間，而這完全是因?yàn)槭诸^沒有新器件數(shù)據(jù)所致。在隨后的半年期間，這個(gè)時(shí)間會(huì)不斷縮短，直到用實(shí)驗(yàn)和誤差分析方法得到實(shí)際所需的老化時(shí)間為止。在老化同時(shí)進(jìn)行測(cè)試則可以通過檢查老化系統(tǒng)生成的實(shí)時(shí)記錄及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生的故障。盡快掌握老化時(shí)間可提高產(chǎn)量，降低器件成本。?
3． 及時(shí)對(duì)生產(chǎn)工藝作出反饋。器件故障有時(shí)直接對(duì)應(yīng)于某個(gè)制造工藝或者某生產(chǎn)設(shè)備，在故障發(fā)生時(shí)及時(shí)了解信息可立刻解決可能存在的工藝缺陷，避免制造出大量不合格產(chǎn)品。??
4． 確保老化的運(yùn)行情況與期望相符。通過監(jiān)測(cè)老化板上的每個(gè)器件，可在老化一開始時(shí)就先更換已經(jīng)壞了的器件，這樣使用者可確保老化板和老化系統(tǒng)按預(yù)先設(shè)想的狀況運(yùn)行，沒有產(chǎn)能上的浪費(fèi)。
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