蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司 
場發(fā)射透射電子顯微鏡
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透 視電子顯微鏡
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溫度循環(huán)試驗TC
產(chǎn)品介紹
型號：Tecnai G2 F20 S-Twin
廠家：美國FEI 公司
主要用途 1.該電鏡是一臺功能強大的材料分析型電子顯微鏡，廣泛應(yīng)用于生物、醫(yī)藥、化工、金屬、半導(dǎo)體材料、高分子材料、陶瓷、納米材料等領(lǐng)域，可對材料的粒度、形貌、成分、內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷進行分析； 2.其配備的STEM/HAADF附件可以成和原子序數(shù)相關(guān)的像，和能譜儀結(jié)合還可以很方便的測量樣品微區(qū)元素的線分布和面分布，對于高分辨像的解析非常有利 3.像素高達2K×2K的CCD可以及時將電子顯微像轉(zhuǎn)換成數(shù)字照片進行輸出，方便了用戶。 主要配置 1.Gatan 894 CCD（2K×2K） 2.STEM/HAADF探測器 3.美國EDAX能譜儀 4.低劑量曝光 5.單傾樣品桿、雙傾樣品桿、低背景雙傾樣品桿 性能指標(biāo) 1.場發(fā)射電子槍 2.加速電壓：20-200 kV連續(xù)調(diào)節(jié) 3.放大倍數(shù)：25-1,000,000 4.點分辨率：0.24nm 5.線分辨率：0.102nm； 6.信息分辨率:≤0.14nm 7.STEM分辨率：0.20 nm 8.STEM放大倍數(shù):200-100,000,000 9.EDS分辨率:優(yōu)于136 eV，分辨元素范圍B5-U92 10.樣品傾角：±40°
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