日韩在线一区二区三区 - 久久re在线播放精品6 - 精品国产欧美一区免费 - 91亚洲国产系列精品第56页 - 青青青国产依人在在线观看高

高溫高濕反偏試驗(yàn)H3TRB

聯(lián)系人: 林先生
手機(jī): 13771787343
電話: 0512-87775859
郵箱: sales@higotech.com
地址: 蘇州工業(yè)園區(qū)星漢街5號(hào)B幢#05-02
價(jià)格: 價(jià)格面議
更多信息
分享:
關(guān)鍵詞: 高溫高濕反偏試驗(yàn)H3TRB           

產(chǎn)品介紹

H3TRB 的重要性

在實(shí)際應(yīng)用中,許多電子產(chǎn)品都可能面臨潮濕環(huán)境的考驗(yàn),例如戶外設(shè)備、海洋設(shè)備、熱帶地區(qū)使用的設(shè)備等。潮濕環(huán)境中的水汽會(huì)滲透到器件內(nèi)部,與雜質(zhì)離子發(fā)生反應(yīng),加速腐蝕和失效。因此,H3TRB 對(duì)于評(píng)估器件在潮濕環(huán)境下的可靠性至關(guān)重要。


H3TRB 的原理

H3TRB 的原理與高溫反偏試驗(yàn)(HTRB)類似,都是利用高溫和反偏電壓來加速器件的失效過程。不同的是,H3TRB 增加了濕度條件,以模擬器件在潮濕環(huán)境下的工作狀態(tài)。

● 高溫: 提高溫度可以增加原子和分子的熱運(yùn)動(dòng),加速器件內(nèi)部的各種物理和化學(xué)反應(yīng),加速老化。

● 高濕: 潮濕環(huán)境中的水汽會(huì)滲透到器件內(nèi)部,與雜質(zhì)離子發(fā)生反應(yīng),加速腐蝕和失效。

● 反偏電壓: 增加器件內(nèi)部的電場(chǎng)強(qiáng)度,加速載流子的運(yùn)動(dòng)和注入,加速缺陷的產(chǎn)生和擴(kuò)散。


高溫高濕反偏試驗(yàn)H3TRB

測(cè)試原理圖


H3TRB 的實(shí)施

H3TRB 的實(shí)施步驟與 HTRB 類似,只是需要在高溫老化箱中增加濕度控制。

1.  選擇合適的溫度、濕度和電壓條件: 根據(jù)器件的型號(hào)、規(guī)格和應(yīng)用場(chǎng)景,選擇合適的溫度、濕度和反偏電壓。一般來說,溫度越高、濕度越大、反偏電壓越大,試驗(yàn)的加速 效果越明顯。但是,過高的溫度、濕度和電壓可能會(huì)導(dǎo)致器件損壞,因此需要選擇合適的條件。

2.  準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備: 準(zhǔn)備高溫高濕老化箱、直流電源、測(cè)試夾具、監(jiān)控設(shè)備等。

3.  連接器件: 將器件連接到測(cè)試夾具上,并施加反向偏置電壓。

4.  設(shè)置測(cè)試參數(shù): 設(shè)置高溫高濕老化箱的溫度、濕度、試驗(yàn)時(shí)間等參數(shù)。

5.  開始測(cè)試: 啟動(dòng)高溫高濕老化箱,開始進(jìn)行高溫高濕反偏試驗(yàn)。

6.  監(jiān)控?cái)?shù)據(jù): 在試驗(yàn)過程中,需要定期或連續(xù)采集器件的參數(shù)變化數(shù)據(jù),如漏電流、擊穿電壓等。

7.  分析數(shù)據(jù): 分析測(cè)試數(shù)據(jù),評(píng)估器件的可靠性,發(fā)現(xiàn)潛在失效機(jī)制,預(yù)測(cè)器件壽命。

高溫高濕反偏試驗(yàn)的設(shè)備

高溫高濕反偏試驗(yàn)H3TRB

H3TRB 在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用

H3TRB 在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛,主要包括以下幾個(gè)方面:

● 可靠性評(píng)估: 用于評(píng)估半導(dǎo)體器件在高溫高濕環(huán)境下的可靠性,發(fā)現(xiàn)潛在的失效機(jī)制,如腐蝕、漏電等。

● 工藝改進(jìn): 通過分析失效原因,改進(jìn)半導(dǎo)體器件的制造工藝,提高其抗?jié)駳饽芰Α?/span>

● 產(chǎn)品篩選: 用于篩選可靠性高的半導(dǎo)體器件,確保產(chǎn)品質(zhì)量。

● 壽命預(yù)測(cè): 通過分析 H3TRB 測(cè)試數(shù)據(jù),預(yù)測(cè)半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用環(huán)境下的壽命。

H3TRB 應(yīng)用實(shí)例

● 集成電路: H3TRB 用于評(píng)估集成電路在潮濕環(huán)境下的可靠性,檢測(cè)其封裝的密封性、抗?jié)駳饽芰Φ取?/span>

● 分立器件: H3TRB 用于評(píng)估二極管、晶體管等分立器件在潮濕環(huán)境下的可靠性,檢測(cè)其引腳的抗腐蝕能力、封裝的密封性等。

● 功率半導(dǎo)體器件: H3TRB 用于評(píng)估功率 MOSFET、IGBT 等功率半導(dǎo)體器件在高溫高濕環(huán)境下的可靠性,檢測(cè)其抗?jié)駳饽芰?、耐高溫能力等?/span>


參考標(biāo)準(zhǔn)

● JEDEC JESD22-A101

● AEC-Q100

● MIL-STD-750

● GJB-548C 2021


服務(wù)熱線

蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司

0512-87775859

地址:蘇州工業(yè)園區(qū)星漢街5號(hào)B幢#05-02

聯(lián)系人:林經(jīng)理  手機(jī):13771787343  電話:0512-87775859  地址:蘇州工業(yè)園區(qū)星漢街5號(hào)B幢#05-02

CopyRight ? 版權(quán)所有: 蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司 網(wǎng)站地圖 XML 商情信息 備案號(hào):蘇ICP備11070819號(hào)

本站關(guān)鍵字: X射線檢測(cè) 無損檢測(cè) X-Ray檢測(cè) 可靠性和失效分析 X射線檢測(cè)服務(wù) 無損檢測(cè)服務(wù) X-Ray檢測(cè)服務(wù) 可靠性和失效分析服務(wù)


微信公眾號(hào)