蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司 
無損檢測服務(wù)
| 價格： | ￥ 1.00 |
|---|---|
| 聯(lián)系人： | 林先生 |
| 手機： | 13771787343 |
| 電話： | 0512-87775859 |
| 郵箱： | sales@higotech.com |
| 地址： | 蘇州工業(yè)園區(qū)星漢街5號B幢#05-02 |
| - + | |
| 更多信息 | |
| 分享： |
|
上一條：
半導(dǎo)體老化測試設(shè)備
下一條：
超聲波掃描顯微鏡檢測服務(wù)
無損檢測服務(wù)
- 一、簡介：
X-RAY無損檢測是利用一陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-Ray形式放出，其具有非常短的波長但高電磁輻射線。
而對于樣品無法以外觀方式檢測的位置，利用紀錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強度的變化，產(chǎn)生的對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題的區(qū)域，
主要檢測：內(nèi)部焊接，短路，氣孔，氣泡，裂紋及異物檢查。
二、檢測服務(wù)項目：
1.IC封裝中的缺陷檢驗如﹕層剝離(stripping)、(crack)、空洞(cavity)以及打線的完整性檢驗；
2.印刷電路板在制作過程中可能產(chǎn)生的缺陷，如﹕對齊不良或橋接(Bridging)以及開路(Open)；
3.SMT焊點空洞(Cavity)現(xiàn)象檢測與量測(Measuration)；
4.各式連接線路中可能產(chǎn)生的開路(Open)，短路(Short)或不正常連接的缺陷檢驗；
5.錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球(Solder ball)的完整性檢驗；
6.密度較高的塑料材質(zhì)破裂(Plastic Burst)或金屬材質(zhì)空洞(metal cavity)檢驗；
7.芯片尺寸量測(dimensional measurement)，打線線弧量測，組件吃錫面積(Solder area)比例量測；
三、檢測標準參考：
1）IPC-A-610D (E) 電子組件的可接受性。
2）MIL-STD 883G-2006微電子器件試驗方法和程序
3）GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
4）GJB 4027A-2006***電子元器件破壞物理分析方法
5）GJB 128A-1997半導(dǎo)體分立器件試驗方法
四、設(shè)備部分參數(shù)：
1.? ***小分辨率：950納米(0.95 微米)
2.? 影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度共140度，旋轉(zhuǎn)360度
3.? 圖像采集:1.3M萬數(shù)字CCD；
4.? 檢測區(qū)域面積: 18”x 16”(458x 407 mm)
5.? 樣品尺寸: 20”x 17.5”(508x 444mm)
6.? 系統(tǒng)放大倍數(shù): 至5650X；
7.? 顯示器: 20.1"(DVIinterface)數(shù)字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)
8.? 安全性: 在機器表面任何地方X光泄露率 小于 1 m Sv/hr 等等
相關(guān)推薦
服務(wù)熱線
蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司
0512-87775859
地址：蘇州工業(yè)園區(qū)星漢街5號B幢#05-02
微信公眾號