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老化測試

聯(lián)系人: 林先生
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地址: 蘇州工業(yè)園區(qū)星漢街5號B幢#05-02
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關(guān)鍵詞: 老化測試   老化測試系統(tǒng)        

產(chǎn)品介紹

老化測試是研究產(chǎn)品壽命特征的方法,這種方法可在實驗室模擬各種使用條件來進(jìn)行。老化(壽命)試驗是可靠性試驗中重要基本的項目之一,它是將產(chǎn)品放在特定的試驗條件下考察其失效(損壞)隨時間變化規(guī)律。 通過老化(壽命)試驗,可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。如結(jié)合失效分析,可進(jìn)一步弄清導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要失效機理,作為可靠性設(shè)計、可靠性預(yù)測、改進(jìn)新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行(批量保證)試驗條件等的依據(jù)。

 如果為了縮短試驗時間可在不改變失效機理的條件下用加大應(yīng)力的方法進(jìn)行試驗,這就是加速壽命試驗。通過壽命試驗可以對產(chǎn)品的可靠性水平進(jìn)行評價,并通過質(zhì)量反饋來提高新產(chǎn)品可靠性水平。


壽命試驗?zāi)康?/span>:考核產(chǎn)品在規(guī)定的條件下,在全過程工作時間內(nèi)的質(zhì)量和可靠性。為了使試驗結(jié)果有較好代表性,參試的樣品要有足夠的數(shù)量。

 

試驗條件:微電路的壽命試驗分穩(wěn)態(tài)壽命試驗、間歇壽命試驗和模擬壽命試驗。

 

穩(wěn)態(tài)壽命試驗是微電路***進(jìn)行的試驗,試驗時要求被試樣品要施加適當(dāng)?shù)碾娫?,使其處于正常的工作狀態(tài)。******標(biāo)準(zhǔn)的穩(wěn)態(tài)壽命試驗環(huán)境溫度為125℃,時間為L 000H。

 

功率型微電路管殼的溫度一般大于環(huán)境溫度,試驗時保持環(huán)境溫度可以低于125℃.

 

微電路穩(wěn)態(tài)壽命試驗的環(huán)境溫度或管殼的溫度要以微電路結(jié)溫等于額定結(jié)溫為基點<一般在175℃一200℃之間)進(jìn)行調(diào)整。

 

間歇壽命試驗要求以頻率對被試微電路切斷或突然施加偏壓和信號,其它試驗條件與穩(wěn)態(tài)壽命試驗相同。

 

模擬壽命試驗是一種模擬徽電路應(yīng)用環(huán)境的組合試驗。它的組合應(yīng)力有機械、濕度和低氣壓四應(yīng)力試驗:機械、溫度、濕度和電四應(yīng)力試驗等。

 

國內(nèi)外普遍采用高溫老化測試工藝來提高電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性,通過高溫老化測試可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露,保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時間的考驗。

 

自主設(shè)計的高速動態(tài)老化測試系統(tǒng),測試通道可達(dá)48-96通道,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、集成電路、電子元器件、SDRAM, DRAM, SRAM, EEPROM, EPROM, FLASH內(nèi)存器件和邏輯電路.

 

   同時可為客戶設(shè)計與定制老化測試系統(tǒng)、老化板等相關(guān)控制電路板。


Max loading: 64 Burn In Boards (4 zones)

72 channels  &  96 channels (Z1,Z2,Z3,Z4)

Temp. range: 70~150 degree C

Total 10 groups of power supply

System:INCAL

Digital & Analog MIX

2 different VIH (0.75V-5.5V)

Vector: NRZ

Memory : 4M

Frequency:10M

Driver current:  0.6A sink, 0.4A source



產(chǎn)品特點:

1.將耗時的功能測試移到老化中可以節(jié)約昂貴的高速測試儀器的時間。如果老化后只進(jìn)行參數(shù)測試及很少的功能測試,那么用現(xiàn)有設(shè)備可測試更多器件,僅此一點即可抵消因采用老化測試方案而發(fā)生的費用。

 

2. 達(dá)到預(yù)期故障率的實際老化時間相對更短。過去器件進(jìn)行首批老化時都要先經(jīng)過168小時,這是人們期望發(fā)現(xiàn)所有早期故障的標(biāo)準(zhǔn)起始時間,而這完全是因為手頭沒有新器件數(shù)據(jù)所致。在隨后的半年期間,這個時間會不斷縮短,直到用實驗和誤差分析方法得到實際所需的老化時間為止。在老化同時進(jìn)行測試則可以通過檢查老化系統(tǒng)生成的實時記錄及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生的故障。盡快掌握老化時間可提高產(chǎn)量,降低器件成本。

 

3. 及時對生產(chǎn)工藝作出反饋。器件故障有時直接對應(yīng)于某個制造工藝或者某生產(chǎn)設(shè)備,在故障發(fā)生時及時了解信息可立刻解決可能存在的工藝缺陷,避免制造出大量不合格產(chǎn)品。 

 

4. 確保老化的運行情況與期望相符。通過監(jiān)測老化板上的每個器件,可在老化一開始時就先更換已經(jīng)壞了的器件,這樣使用者可確保老化板和老化系統(tǒng)按預(yù)先設(shè)想的狀況運行,沒有產(chǎn)能上的浪費。


老化測試

 Burn-in System老化系統(tǒng)示意圖


老化測試 老化測試

Software Interface系統(tǒng)軟件界面示意圖


老化測試

Burn-in Board老化板


老化測試

Layout Design:布線設(shè)計


老化測試

Driver Board 驅(qū)動板


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