隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高，結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微，工序越來越多，制造工藝越來越復(fù)雜，這樣在制造過程中會(huì)產(chǎn)生潛伏缺陷。對(duì)一個(gè)好的電子產(chǎn)品，不但要求有較高的性能指標(biāo)，而且還要有較高的穩(wěn)定性。電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性取決于設(shè)計(jì)的合理性、元器件性能以及整機(jī)制造工藝等因素。
目前，國內(nèi)外普遍采用高溫老化測試工藝來提高電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性，通過高溫老化測試可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露，保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。
我們自主設(shè)計(jì)的高速動(dòng)態(tài)老化測試系統(tǒng)，測試通道可達(dá)48-96通道，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、集成電路、電子元器件、SDRAM, DRAM, SRAM, EEPROM, EPROM, FLASH內(nèi)存器件和邏輯電路.同時(shí)可為客戶設(shè)計(jì)與定制老化測試系統(tǒng)、老化板。


 一、參數(shù)：

1.標(biāo)配為輸入直流電壓24V；（可依據(jù)客戶需求參數(shù)設(shè)計(jì)不同
電壓范圍）

2.輸出直流電壓3.3V\24V 兩檔；（可依據(jù)客戶需求參數(shù)設(shè)計(jì)
不同電壓范圍）

3.采用USB-RS485隔離模塊與電腦主機(jī)軟件進(jìn)行通訊協(xié)議、
傳輸數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠；

4.軟件主界面老化恒定時(shí)間與交變時(shí)間均可自由設(shè)定參數(shù)；

5.交變可進(jìn)行有效的監(jiān)控老化過程，軟件界面操作簡潔、參數(shù)
設(shè)定方便；

6.老化過程可生成實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)、曲線等相關(guān)參數(shù)供追溯查閱。