X-Ray無(wú)損檢測(cè)認(rèn)準(zhǔn)浩高電子科技
蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司主要從事X-Ray無(wú)損檢測(cè),我們始終堅(jiān)持誠(chéng)信和讓利于客戶,堅(jiān)持用自己的服務(wù)去打動(dòng)客戶。我們憑借在江蘇蘇州建立的廣泛業(yè)務(wù)關(guān)系網(wǎng)和豐富的***驗(yàn),為各層面的半導(dǎo)體集成電路公司提供多方位便捷服務(wù),更為客戶解決X-Ray無(wú)損檢測(cè)過(guò)程中各種疑難問(wèn)題。我們公司位于蘇州市,具體地址在星漢街5號(hào)B幢#05-02。如果您對(duì)我們的X-Ray無(wú)損檢測(cè)有需求,歡迎電話聯(lián)系。
一、簡(jiǎn)介:
X-RAY無(wú)損檢測(cè)是利用一陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過(guò)程中,因電子突然減速,其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出,其具有非常短的波長(zhǎng)但高電磁輻射線。
而對(duì)于樣品無(wú)法以外觀方式檢測(cè)的位置,利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化,產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測(cè)物之內(nèi)部結(jié)構(gòu),進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問(wèn)題的區(qū)域,
主要檢測(cè):內(nèi)部焊接,短路,氣孔,氣泡,裂紋及異物檢查。
二、檢測(cè)服務(wù)項(xiàng)目:
1.IC封裝中的缺陷檢驗(yàn)如﹕層剝離(stripping)、(crack)、空洞(cavity)以及打線的完整性檢驗(yàn);
2.印刷電路板在制作過(guò)程中可能產(chǎn)生的缺陷,如﹕對(duì)齊不良或橋接(Bridging)以及開(kāi)路(Open);
3.SMT焊點(diǎn)空洞(Cavity)現(xiàn)象檢測(cè)與量測(cè)(Measuration);
4.各式連接線路中可能產(chǎn)生的開(kāi)路(Open),短路(Short)或不正常連接的缺陷檢驗(yàn);
5.錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球(Solder ball)的完整性檢驗(yàn);
6.密度較高的塑料材質(zhì)破裂(Plastic Burst)或金屬材質(zhì)空洞(metal cavity)檢驗(yàn);
7.芯片尺寸量測(cè)(dimensional measurement),打線線弧量測(cè),組件吃錫面積(Solder area)比例量測(cè);
三、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考:
1)IPC-A-610D (E) 電子組件的可接受性。
2)MIL-STD 883G-2006微電子器件試驗(yàn)方法和程序
3)GJB 548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序
4)GJB 4027A-2006***電子元器件破壞物理分析方法
5)GJB 128A-1997半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
四、設(shè)備部分參數(shù):
1. ***小分辨率:950納米(0.95 微米)
2. 影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度共140度,旋轉(zhuǎn)360度
3. 圖像采集:1.3M萬(wàn)數(shù)字CCD;
4. 檢測(cè)區(qū)域面積: 18”x 16”(458x 407 mm)
5. 樣品尺寸: 20”x 17.5”(508x 444mm)
浩高電子科技擁有豐富的資源優(yōu)勢(shì)和***團(tuán)隊(duì),為半導(dǎo)體集成電路公司的各種需求提供多元化的X-Ray無(wú)損檢測(cè),全程專員跟進(jìn),您只需客戶提供產(chǎn)品的詳細(xì)參數(shù),規(guī)格條件,圖紙等數(shù)據(jù),走客戶咨詢--方案評(píng)估--銷售定價(jià)--送檢測(cè)試流程,我們將以好的服務(wù),快速交付所托!以客戶需求為導(dǎo)向,把為客戶創(chuàng)造價(jià)值作為目標(biāo)。X-Ray無(wú)損檢測(cè)是一項(xiàng)工作嚴(yán)謹(jǐn)非常***而文件繁雜的事情,切勿掉以輕心,為保障閣下公司的利益,請(qǐng)選擇***辦理的蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司。
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