本公司是一家***商務服務公司，公司總部位于蘇州市，成立于2010-06-23，是江蘇省一家專注于X-Ray無損檢測服務的有限責任公司。公司基于良好的員工***素質，結合完善的培訓機制，創(chuàng)造出一個蓬勃向上的團隊，為廣大半導體集成電路公司提供完善的X-Ray無損檢測及信息咨詢。

一、簡介：
X-RAY無損檢測是利用一陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-Ray形式放出，其具有非常短的波長但高電磁輻射線。
而對于樣品無法以外觀方式檢測的位置，利用紀錄X-Ray穿透不同密度物質后其光強度的變化，產(chǎn)生的對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內部結構，進而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內部有問題的區(qū)域，
主要檢測：內部焊接，短路，氣孔，氣泡，裂紋及異物檢查。
二、檢測服務項目：
1.IC封裝中的缺陷檢驗如﹕層剝離(stripping)、(crack)、空洞(cavity)以及打線的完整性檢驗；
2.印刷電路板在制作過程中可能產(chǎn)生的缺陷，如﹕對齊不良或橋接(Bridging)以及開路(Open)；
3.SMT焊點空洞(Cavity)現(xiàn)象檢測與量測(Measuration)；
4.各式連接線路中可能產(chǎn)生的開路(Open)，短路(Short)或不正常連接的缺陷檢驗；
5.錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球(Solder ball)的完整性檢驗；
6.密度較高的塑料材質破裂(Plastic Burst)或金屬材質空洞(metal cavity)檢驗；
7.芯片尺寸量測(dimensional measurement)，打線線弧量測，組件吃錫面積(Solder area)比例量測；
三、檢測標準參考：
1）IPC-A-610D (E) 電子組件的可接受性。
2）MIL-STD 883G-2006微電子器件試驗方法和程序
3）GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
4）GJB 4027A-2006***電子元器件破壞物理分析方法
5）GJB 128A-1997半導體分立器件試驗方法
四、設備部分參數(shù)：
1. ***小分辨率：950納米(0.95 微米)
2. 影像接收器左右偏轉角度各70度共140度，旋轉360度
3. 圖像采集:1.3M萬數(shù)字CCD；
4. 檢測區(qū)域面積: 18”x 16”(458x 407 mm)
5. 樣品尺寸: 20”x 17.5”(508x 444mm)

浩高電子科技所提供的X-Ray無損檢測費用是以項目計費，客戶可通過電話預約;短信預約的方式進行服務預約，我們能夠幫助客戶解決各類X-Ray無損檢測問題。我們的營業(yè)時間是周一至周五，請在這個時間段內與我們聯(lián)系。當然，我們還提供了免費咨詢的增值服務，以便為客戶提供便捷、滿意的服務，實現(xiàn)客戶利益的更大化。

浩高電子科技提供的服務***“依客戶提供的樣品篩選檢測”特色，從創(chuàng)辦公司至今在商務服務領域不斷摸索，積累了很多關于X-Ray無損檢測方面的寶貴經(jīng)驗，誠實守信、踏實辦事。本著***對半導體集成電路公司負責、對自己提供的服務服務的精神，在一個服務周期整個服務期間，能快速、順利的為您解決難題。我公司以為眾多半導體集成電路公司提供***、周到的服務為榮，以能得到客戶的肯定而感到驕傲。

對于浩高電子科技而言，多年來的努力，就是力爭為眾多半導體集成電路公司提供完善、周到的X-Ray無損檢測，堅持用更加誠實守信的經(jīng)營理念回報社會。本著***對客戶負責的精神，在技術合作行業(yè)不斷努力。本公司坐落于星漢街5號B幢#05-02，歡迎惠顧！