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2021-01-13  來自: 蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司 瀏覽次數(shù):351

X-Ray無損檢測認準浩高電子科技

蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司主要從事X-Ray無損檢測,我們始終堅持誠信和讓利于客戶,堅持用自己的服務去打動客戶。我們憑借在江蘇蘇州建立的廣泛業(yè)務關系網和豐富的***驗,為各層面的半導體集成電路公司提供多方位便捷服務,更為客戶解決X-Ray無損檢測過程中各種疑難問題。我們公司位于蘇州市,具體地址在星漢街5號B幢#05-02。如果您對我們的X-Ray無損檢測有需求,歡迎電話聯(lián)系。

一、簡介:
X-RAY無損檢測是利用一陰極射線管產生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過程中,因電子突然減速,其損失的動能會以X-Ray形式放出,其具有非常短的波長但高電磁輻射線。
而對于樣品無法以外觀方式檢測的位置,利用紀錄X-Ray穿透不同密度物質后其光強度的變化,產生的對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內部結構,進而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內部有問題的區(qū)域,
主要檢測:內部焊接,短路,氣孔,氣泡,裂紋及異物檢查。
二、檢測服務項目:
1.IC封裝中的缺陷檢驗如﹕層剝離(stripping)、(crack)、空洞(cavity)以及打線的完整性檢驗;
2.印刷電路板在制作過程中可能產生的缺陷,如﹕對齊不良或橋接(Bridging)以及開路(Open);
3.SMT焊點空洞(Cavity)現(xiàn)象檢測與量測(Measuration);
4.各式連接線路中可能產生的開路(Open),短路(Short)或不正常連接的缺陷檢驗;
5.錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球(Solder ball)的完整性檢驗;
6.密度較高的塑料材質破裂(Plastic Burst)或金屬材質空洞(metal cavity)檢驗;
7.芯片尺寸量測(dimensional measurement),打線線弧量測,組件吃錫面積(Solder area)比例量測;
三、檢測標準參考:
1)IPC-A-610D (E) 電子組件的可接受性。
2)MIL-STD 883G-2006微電子器件試驗方法和程序
3)GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
4)GJB 4027A-2006***電子元器件破壞物理分析方法
5)GJB 128A-1997半導體分立器件試驗方法
四、設備部分參數(shù):
1. 小分辨率:950納米(0.95 微米)
2. 影像接收器左右偏轉角度各70度共140度,旋轉360度
3. 圖像采集:1.3M萬數(shù)字CCD;
4. 檢測區(qū)域面積: 18”x 16”(458x 407 mm)
5. 樣品尺寸: 20”x 17.5”(508x 444mm)
6. 系統(tǒng)放大倍數(shù): 至5650X;

本公司***從事X-Ray無損檢測及對應疑難問題解決等事項多年,經驗豐富、***水平高、辦事能力強,一旦承諾便能為半導體集成電路公司做到。蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司時刻以此來嚴格要求自己,為半導體集成電路公司提供具有依客戶提供的樣品篩選檢測服務特色的X-Ray無損檢測,能快速、順利的為您解決難題,在蘇州市一直備受好評。

浩高電子科技為了能夠讓客戶享受更多的優(yōu)惠服務,所提供的X-Ray無損檢測在蘇州市的客戶均可采用以項目計費的方式計算服務費用,并且公司還提供可以免費咨詢,服務有保障。我司一直貫徹為半導體集成電路公司提供方便的服務,您可以選擇適合您付款的方式來支付服務費,如銀行轉賬。

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