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高新超聲波掃描檢測(cè)，

一：超聲波掃描顯微鏡，通常稱做SAM或者SAT是檢測(cè)離層、裂痕和其他缺陷必不可少的工具. 它不僅能檢測(cè)出缺陷,更能清楚的指出缺陷的位置.

二：超聲掃描成像顯微成像技術(shù)應(yīng)用：

1.微電子:塑封IC,陶瓷電容,模片固定,芯片級(jí)封裝,倒裝,

印刷電路板（PCB）等

2.微機(jī)械系統(tǒng):粘結(jié)芯片,制造工藝評(píng)估,包裝

3.軍事/航天/汽車電子:高可靠性資格篩選,產(chǎn)品升級(jí)篩選

4.材料:陶瓷,剝離,金屬,塑料,化合物

5.其他:微陣列芯片,生物芯片,微射流技術(shù),傳感器等

高新超聲波掃描檢測(cè)，提供超聲波掃描顯微鏡檢測(cè)， 蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司本著“優(yōu)異高能、誠(chéng)實(shí)守信、務(wù)實(shí)創(chuàng)新、共同發(fā)展”的原則，全心全意為廣大企業(yè)提供快捷、放心、優(yōu)越品質(zhì)的超聲波掃描顯微鏡檢測(cè)服務(wù)。公司愿與各界朋友精誠(chéng)合作，共創(chuàng)未來(lái)！公司地址：星漢街5號(hào)B幢#05-02，源自可靠，竭誠(chéng)為您服務(wù)。